薄液膜去湿不稳定性的热力学分析

摘要

薄液膜去湿会形成一个图案,这个过程是非线性的,薄液膜去湿所形成的表面图案已应用到了很多技术方面,如微电子电路的制造、电子存储设备等。用特征长度和时间量描述的薄液膜去湿的不稳定性可以用薄液膜动力学的线性稳定性分析得到。另外,基于薄液膜减少的自由能和粘性耗散导致的摩擦损失相等的热力学方法能给出相似的信息。由于边界无滑移条件下牛顿流体的薄液膜去湿的不稳定性已得到研究,本文对边界滑移条件下牛顿流体的薄液膜去湿的不稳定性用热力学方法进行了研究,即在求解的过程中带入边界滑移条件,得到描述的薄液膜去湿的不稳定性的特征长度的统一形式, 并比较了忽略Marangoni 效应情况下的薄液膜去湿的不稳定性和考虑Marangoni 效应情况下薄液膜去湿的不稳定性。

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