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XRD法快速测定铝电解质中锂含量

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X射线衍射法已经成功的用于日常分析,由于新方法的测量时间比化学法缩短了2160倍,用10秒钟代替了6小时.而且新方法测量的重现性优于化学法,新方法提供的数据及时监控生产工艺.为节能减排做出了重大贡献.测量出铝电解质中氟化锂含量后，对衍射法测量的分子比值进行修正，修正值表示:假如在电解质中不含氟化锂时的分子比值，同时提供这两个值，对于生产冶炼的质量控制是非常重要的。

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来源
《帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会》|2010年|140-143|共4页
会议地点西宁
作者
Li Jianzhi; 李建智;
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作者单位

帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类铝;
关键词
铝电解质; 冶炼工艺; X射线衍射技术; 氟化锂含量; 质量控制;

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