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永磁铁氧体半成品的XRF法定量测定

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本文介绍了X射线荧光光谱法(XRF)在永磁铁氧体半成品分析中的应用,使用标准曲线测定了其中的Fe、Sr、Si等元素的含量.结果表明,Fe、Sr、Si等元素含量的测定偏差＜0.3％,平行测定11次相对标准偏差(RSD)可达到0.1％.与传统化学法测定相比,XRF可同时测定三种元素,每个样品测定时间在2分钟以内,极大的提高了工作效率.

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来源
《帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会》|2010年|199-203|共5页
会议地点西宁
作者
Du Zhiguo; 杜治国; Zhu Zemin; 朱泽民;
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作者单位

帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类铁氧体、氧化物磁性材料;
关键词
永磁铁氧体; X射线荧光光谱; 微量元素; 含量测定;

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