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一种基于ARM Cortex微控制器的相位差检测方法

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本文针对周期信号之间的小相位差难以检测的问题，提出了一种基于ARM Cortex高性能微控制器，采用相位差放大处理技术的相位差检测方法，系统简单，并做了测试，信号在1kHz时精度能达到2％。

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来源
《中国电子学会电路与系统学会第二十二届年会》|2010年|139-143|共5页
会议地点上海
作者
刘世国; 彭春荣;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TM933.312;
关键词
相位差; 微控制器; 放大处理;

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