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128×128InSb红外焦平面阵列噪声温度特性分析

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摘要

实验利用变温杜瓦装置改变128×128InSb阵列的工作温度，通过测试系统对其噪声进行采集。经过测试和分析，重点研究了InSb红外焦平面阵列的噪声与工作温度的关系，给出了阵列噪声与工作温度的关系曲线。研究表明，红外焦平面阵列的噪声随工作温度的升高而变大。当工作温度在77～107K时，噪声随温度增加趋势比较缓慢;当工作温度达到107K并继续升高时，红外焦平面阵列噪声急剧上升;当工作温度超过127 K时，阵列接近饱和。

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来源
《第九届全国光电技术学术交流会》|2010年|1-3|共3页
会议地点北京
作者
郭强; 刘俊明; 王巍;
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作者单位

中国宇航学会;

中国航空学会;

中国兵工学会;

中国光学学会;

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类红外探测、红外探测器;设计;
关键词
噪声; 温度特性; 红外焦平面阵列;

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