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电子探针与微区X射线衍射联合应用研究——以羟硅铍石的鉴定为例

摘要

@@本文通过电子探针分析仪和微区X射线衍射仪的联合应用,建立了在电子探针分析仪上通过背散射电子像亮度,Si、0能谱峰强度比鉴别疑似羟硅铍石的标志,快速确定衍射分析位置,进而利用微区X射线衍射仪在光片上进行原位无损分析,最终确定该矿床矿石中工业铍矿物以独立矿物羟硅铍石存在。

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