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FPGA逻辑资源重配置测试技术研究

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针对FPGA的逻辑资源测试,提出了一种内建自测试方法.测试中逻辑资源划分为不同功能器件,对应各个功能器件设计了相应的BIST测试模板.在此基础上进一步利用FPGA的部分重配置性能优化BIST测试过程,最终在统一的BIST测试框架下,采用相对较少的配置次数完成了逻辑资源固定故障的全覆盖测试.

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来源
《2010微系统技术发展研讨会》|2010年|147-157|共11页
会议地点贵阳
作者
ZHANG Hui-guo; 张惠国; XU Yan-feng; 徐彦峰; CAO Zheng-zhou; 曹正州; YU Da-xin; 于大鑫; YU Zong-guang; 于宗光;
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作者单位

《中国电子科学研究院学报》杂志社;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN492:TN407;
关键词
现场可编程门阵列; 逻辑资源; 优化配置; 内建自测试技术;

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