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铜中间层对SiC陶瓷/不锈钢钎焊接头界面结构的影响

摘要

使用铜箔作为应力缓冲中间层,采用Ag-Cu-Ti钎料实现了SiC陶瓷与304不锈钢的钎焊连接,利用扫描电镜和能谱分析方法对接头的界面结构进行了分析,重点研究了Cu中间层厚度对界面结构和连接结果的影响.结果表明:40μmCu中间层钎焊后可完全反应尽,此时接头内仍然存在裂纹;采用200μmCu中间层时焊后接头内生成大块的富铜固溶体,热应力可以得到一定程度的释放,接头内没有发现裂纹;采用900μmCu中间层时接头内存在连续的未反应铜层,此时应力大幅度释放,可实现无裂纹的钎焊连接.对采用200μm和900μmCu中间层时接头进行了力学性能测试,此时的断裂发生均发生在SiC陶瓷母材内部,接头最高抗剪强度达到98MPa.

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