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基于正弦相位调制的光学相干层析成像技术研究

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光学相干层析成像(OCT)作为一种新型的成像技术,已广泛应用于临床检查,但成像速度和分辨率较低。为了提高系统的成像速度及分辨率,提出一种基于低速面阵CCD 高速图像传感的正弦相位调制OCT检测技术。在迈克耳孙干涉仪参考镜的背面粘贴一个压电陶瓷(PZT),加一正弦相位信号控制PZT的振动,使参考镜沿光轴方向连续改变参考臂的光程,对样品进行深度扫描;推出了基于正弦相位调制的OCT干涉信号光强表达式,并对其成像技术进行了讨论;因PZT 连续移相,面阵CCD同一像素可探测物体内部断层结构。因此,该技术利用面阵CCD能得到被测样品内部断层结构信息。该技术无需步进移动参考镜和横向机械扫描,具有成像速度快、灵敏度高、信噪比高、成本低廉等优点。

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来源
《2009年全国信息光学与光子器件学术会议》|2009年|6-10|共5页
会议地点青岛
作者
何国田; 廖昌荣; 蒋和伦; 龙兴明; 宋莉;
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作者单位

中国光学学会;

中科院上海光学精密机械研究所;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类物理光学（波动光学）;
关键词
正弦相位调制; 光学相干层析成像; 成像速度;

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