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互耦效应对泰勒阵列天线的影响分析

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摘要

互耦效应是低副瓣阵列天线分析与设计中需要考虑的重要问题.在经典阵列综合方法--泰勒综合法的基础之上,仿真分析了互耦效应对方向图副瓣性能的影响.结果表明,互耦效应对阵列天线的低副瓣性能影响较为严重.

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来源
《第三届全国嵌入式技术和信息处理联合学术会议》|2009年|190-193|共4页
会议地点北京
作者
石吉锋; 洪家财; 段玉兴;
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作者单位

测控技术编辑部;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类发散级数、可求和性、收敛因子;
关键词
互耦效应; 低副瓣阵列天线; 泰勒综合法; 方向图;

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