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采用AFM研究TiO2压敏陶瓷的热沟与晶界偏析

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本文主要研究TiO2压敏陶瓷晶界偏析及其结构测试，采用扫描电子显微镜(SEM)、XRD、原子力显微镜(AFM)等测试手段进行实验研究。并总结归纳了影响TiO2压敏陶瓷晶界偏析的因素。

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来源
《2009云南省研究生学术论坛》|2009年|14-18|共5页
会议地点昆明
作者
王韫; 严继康; 甘国友; 杜景红; 易建宏; 杨素保;
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作者单位

云南省教育厅;

云南省学位委员会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类半导体陶瓷材料;
关键词
原子力显微镜; 测试手段; 二氧化钛压敏陶瓷; 晶界偏析;

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