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航天用SOC测试与验证技术研究

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由于SOC芯片设计定型的特点,传统的测试方法已经不能满足SOC芯片测试的需求,不能像测试中小规模器件那样作为一个整体对SOC芯片进行测试.本文总结了几种可测性设计和测试方法,供芯片设计单位和可靠性专业单位参考.此外,为保证航天用SOC芯片的高可靠性,本文还提供了几种验证方法.rn 为了确保IP核的正确性和SOC的量产率，在IP核和SOC的设计与制造过程中必须多次测试芯片和电路。测试包括功能测试和结构测试，功能测试更多地用于设计验证，基于可测试性设计的测试属于结构测试。可测性设计是适应集成电路的发展所出现的一种技术，主要任务是对电路的结构进行调整，增加部分的电路，提高电路的可测性，即可控制性和可观察性。按测试结构分，目前比较成熟的可测试技术主要有内部扫描设计、内建自测试(BIST)、边界扫描设计等，不同类型的IP核会采用不同的可测试性设计和测试方法。

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来源
《2016国防计量与测试学术交流会》|2016年|406-409|共4页
会议地点成都
作者
赵永兴; Zhao Yongxing; 杜鹃; Du Juan; Liu Yongmei; 李永梅; Yuan Yunhua; 袁云华;
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作者单位

中国宇航学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类航天仪表、航天器设备、航天器制导与控制;
关键词
航天工程; 系统芯片; 测试方法; IP核;

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