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蔡德惠; 黄绍芬; 王洋; 谭智昭;
中国电子学会;
压敏电阻器; 压敏电压; 判定参数; 失效分析;
机译:失效工程分析:判定方法的测定
机译:以:h / d比作为失效的可判定标准?
机译:退化对低压金属氧化物压敏电阻能量吸收能力和失效时间的影响
机译:压敏电阻高阻领涂层的评估与失效分析
机译:CTOD断裂参数在缺口压力容器失效分析中的应用(裂纹尖端开口位移)。
机译:评论腐蚀性休克的右心室失效:表征发病率和对流体反应的影响:评估右心室失效和静脉充血的哪个参数?
机译:加工条件对根据可用的纳米晶体ZnOE电子补充信息制备的压敏电阻的影响:1)与Sb,Bi和Co涂覆前后的纳米ZnO样品的HRTEM相关的EDX; 2)添加所有掺杂剂后,在300°C下煅烧的压敏电阻粉末的HRTEM和EDTEM与HRTEM相关; 3)在1050°C烧结的核壳压敏电阻样品的FESEM与EDX相关。参见http://www.rsc.org/suppdata/jm/b3/b306280e/
机译:ZnO压敏电阻失效的计算机模拟
机译:仅通过缺陷来测量失效概率的方法,通过对提取的缺陷图案参数进行分类来测量缺陷受限良率的方法以及仅通过缺陷和缺陷受限良率来度量失效概率的系统
机译:仅通过缺陷来测量失效概率的方法使用分类提取的缺陷图案参数来测量缺陷受限良率的方法以及仅通过缺陷和缺陷受限良率来度量失效可能性的系统
机译:一种封装金属氧化物压敏电阻以包含寿命终止失效的方法
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