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SOI大规模集成电路抗辐照性能研究

摘要

提出了初步的大规模SOI集成电路总剂量、单粒子辐照实验方法。研究了SOI CMOS MCS-51系列8位单片机、8k × 8 SOI SRAM在60Coγ辐照环境中的响应特性。通过对动态和静态两种偏置条件下电路的电离辐照敏感参数的分析,给出了大规模SOI集成电路:静态随机存储器(SRAM)微控制器(MCU)的”Co γ总剂量效应实验的结果。重点研究了微控制器(MCU)的单粒子实验流程,为大规模SOI集成电路的可靠性研究奠定了基础。

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