首页> 中文会议>五省一市光学学会联合年会暨十三省市光学学会联合年会 >石英波片相位延迟量及厚度的精密光学测量

石英波片相位延迟量及厚度的精密光学测量

摘要

用石英晶体制作的波片在光学上被广泛应用,波片起作用的是相位延迟量.通常,由于零级石英波片的厚度太薄,不易加工和使用.一般是在所需零级波片的厚度上叠加几个至几十个使用波长(λ)的全波片厚度dλ.对于这种多级波片,其绝对厚度D 应该为:D=N dλ+d,其中N为绝对厚度中所含全波长厚度值(dλ)的整数.当前对于光学波片的厚度,尚未有实用的非接触测量方法.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号