基于PETSc的半导体有源器件的仿真

摘要

电磁脉冲影响着电子设备的正常工作,而研究电磁脉冲对电子设备的影响可以通过研究电磁脉冲对构成电子系统的基本单元即半导体PN结的影响来进行.本文利用PETSc求解通过漂移、扩散理论所建立的半导体方程组所得结果与文献[1]的仿真结果是一致的,而且缩短了计算的时间.

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