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基于802C数控系统的二次开发技术研究

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本文分析了西门子802C数控系统的软硬件结构,以数控系统实验平台为基础,对802C系统的二次开发技术进行研究;详细分析802C系统集成PLC开发技术与通用PLC S7-200的差异.提出一种针对于PLC循环周期的测试方法。

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来源
《第二届仪表、自动化与先进集成技术大会》|2008年|379-383|共5页
会议地点深圳
作者

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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类自动控制、自动控制系统;程序控制机床、数控机床及其加工;
关键词
二次开发; PLC技术; 循环周期; 数控系统; 测试方法;

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