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纯镁和AZ91HP镁合金微弧氧化膜性能比较

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在环保型电解液中，采用电压-时间曲线、等离子体发射光谱仪(ICP)、扫描电镜(SEM)等方法研究了纯镁和AZ91HP两种基体材料对氧化过程、氧化膜表面形貌及成分的影响。根据电压-时间曲线，在氧化时间分别为1min和5min时，AZ91HP镁合金的电流效率比纯镁低，可能是由AZ91HP中的合金元素铝氧化并进入氧化膜中导致裂缝增加，成为析氧中心所导致的.在AZ91HP镁合金上生成的氧化膜孔的均匀性没有纯镁好，并且最大孑L的直径比在纯镁上的氧化膜大。EDS分析表明，随着氧化时间延长，氧化膜中Si和P含量增加;而在氧化时间相同的情况下，两种基体上形成的氧化膜成分没有明显区别。ICP方法没有检测到氧化溶液中含有Mg2+和Al3+，表明这两种离子在溶液中的浓度很低。

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来源
《第十五届全国高技术陶瓷学术年会》|2008年|560-563|共4页
会议地点沈阳
作者
张荣发; 黄隆; 胡长员; 柯科; 巢强花; 王为;
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作者单位

中国硅酸盐学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类腐蚀的控制与防护;
关键词
镁合金; 微弧氧化膜; 防腐性能; 表面形貌;

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