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晶粒棱长、尺寸与拓扑学特征之间关系的Monte Carlo仿真研究

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采用Potts模型Monte Carlo方法研究了晶粒棱长、尺寸与拓扑学特征之间的统计关系。结果表明,晶粒棱长与晶粒面数之间呈线性统计关系,并且平均N面体晶粒模型和Poisson-Voronoi组织均支持该结论。不同时刻的晶粒长大仿真数据表明,在准稳态晶粒长大阶段晶粒棱长的分布具有自相似性。个体晶粒的平均棱长随晶粒面数(或晶粒尺寸)的增加而逐渐增大,这说明一些理论模型中采用的"不同面数的晶粒平均棱长均相等"的假设具有局限性。仿真数据和纯铁实验数据均表明,晶粒尺寸与晶粒面数之间的统计关系表现为一条单调递增的凸曲线。

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来源
《2008中国材料研讨会—计算材料分册》|2008年|132-136|共5页
会议地点广州
作者
秦雯; 沙爱民; 胡倩;
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作者单位

中国材料研究学会;

中国材料研究学会计算材料分会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类晶体生长理论;
关键词
晶粒棱长; 晶粒尺寸; 拓扑学; Monte Carlo仿真;

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