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硅铁的X射线荧光光谱分析

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摘要

采用X射线荧光光谱法测定硅铁中Si、Mn、P、Cr、Al、Ca的含量，通过研究硅铁的分析条件及制样条件以便更好的建立工作曲线，测定其精密度及准确度，完全满足生产要求。

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来源
《2007年直读光谱仪及X荧光光谱仪用户技术交流会》|2007年|64-66|共3页
会议地点北戴河
作者
张春燕;
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作者单位

全国轧钢信息网;

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会议组织
正文语种
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中图分类
关键词
硅铁; XKF; 分析;

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