首页> 中文会议>2007年直读光谱仪及X荧光光谱仪用户技术交流会 >X荧光光谱熔融法测定氧化铁皮中TFe、S、P、SiO2

X荧光光谱熔融法测定氧化铁皮中TFe、S、P、SiO2

摘要

本文试验了用X荧光光谱熔融法分析氧化铁皮中的TFe、S、P、SiO2成分,对分析条件进行了试验摸索,确定了优化分析条件。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号