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扫描探针DFM模式下的炭黑表面微观结构研究

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本文用扫描探针显微镜(SPM)测定了多种炭黑石墨化前后的表面微观结构，测量炭黑粒径以及表面粗糙度等微观参数，并与石墨化前的数据进行比较，结果表明炭黑石墨化后其表面形貌变化不大，但粗糙度却发生了改变，表面凹凸结构降低。并用图像处理软件进行图像分析得到表面粗糙度等数值，得到了一个新的炭黑表征参数-平均表面面粗糙度。同时测定了炭黑比表面积等常规物化性质，结果表明粗糙度值与炭黑常规补强参数间存在着一定的联系，粗糙度值越大，其常规补强参数值亦高。

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来源
《四川省机械工程学会粉末冶金专委会学术交流会暨成都市2007科技年机械工程学会粉冶年会》|2007年|51-60|共10页
会议地点四川自贡
作者
张敬雨; 陈建; 金永中;
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作者单位

四川省机械工程学会;

中国机械工程学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类非金属导电材料、炭素材料;
关键词
炭黑; 微观结构; 粗糙度;

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