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基于IEEE1445标准的电路板自动测试结构设计与实现

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由于各种电路板自动测试系统(ATS)所具有的仪器模块、TPS开发环境、测试接口不完成一样,造成了TPs对ATS的依赖性,引起在它们之上所开发的TPS不兼容的问题,为了解决此问题及造成的测试资源浪费,基于IEEE1445标准的思想,对原有的电路板测试结构进行了拓展,提出了一种新的自动测试结构。实际应用表明,该结构通用性较强,在很大程度上提高了TPS的有效性,扩展了ATE的使用范围,提高了工作效率,为电路板测试诊断技术的发展提供了一定的参考价值。

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来源
《2007年全国测控、计量、仪器仪表学术年会》|2007年|241-244|共4页
会议地点厦门
作者
宁小玲; 孙臣良; 程江涛; 秦亮;
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作者单位

中国电子学会;

中国仪器仪表学会;

中国计量测试学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;国际;
关键词
IEEE1445标准; 电路板测试; 自动测试结构; ATE; 自动测试系统;

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