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高光谱成像在水果表面缺陷及污染检测中的研究进展

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水果表面缺陷和污染是影响水果品质与分级的重要指标之一。高光谱成像技术融合光谱和图像技术两者优点，所获得的高光谱图像数据具有丰富的图谱信息，因而能对水果综合品质进行无损检测。随着高光谱成像技术的日趋成熟、高光谱成像软硬件成本的不断下降和数据处理算法的不断改进，在水果品质自动检测领域应用高光谱成像技术进进行自动化分级已成为当前研究热点之一。该文综述国外高光谱成像在水果表面缺陷和污染无损检测领域的研究进展，并指出今后进一步研究的方向。

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来源
《中国农业工程学会2007年学术年会》|2007年||共4页
会议地点大庆
作者
马本学; 石河子大学机械电气工程学院; 应义斌; 饶秀勤;
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作者单位

中国农业工程学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类收获、初加工、贮藏;
关键词
水果品质; 表面缺陷; 高光谱成像; 污染检测; 无损检测;

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