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辐射效应的最坏情况分析方法探讨

摘要

空间辐射环境引起的总剂量效应、单粒子效应等辐射效应对航天器有着严重的危害.随着航天器飞行和探测范围的快速拓展,辐射的高通量和随机性成为航天器空间飞行所面临的最直接威胁.地面加速器模拟方法虽然具人为可控、实验条件灵活、可反复进行的优点,但测量时间长,费用昂贵.本文提出将半导体器件模拟和电路仿真相结合的仿真分析方法,可以清楚的展示辐射效应的物理机理和电性能影响,并能够进行定量化的分析,降低实验检测费用.能够有效地模拟和预测航天器电子产品在特定工况和空间环境下的工作性能,对于提高航天器可靠性和质量水平具有重要意义.

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