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采用准轴向渐变折射率透镜的平面光波光路芯片耦合结构

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在楔形光纤(WSF)与平面光波光路(PLC)芯片的对准耦合中,虽然解决了光纤与芯片的模场失配,但石英材料和半导体材料之间的折射率失配会带来严重的反射损耗,渐变折射率(GRIN)结构可以部分补偿这类耦合损耗。本文提出一种准轴向渐变折射率(AGRIN)透镜用于WSF-PLC耦合连接中,和单个径向渐变折射率(RGRIN)透镜、双RGRIN透镜组合方案相比,实验结果表明耦合效率分别提高了7.816dB和2.282dB。WSF-AGRIN-PLC是较优的光纤-芯片耦合方案。

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来源
《全国第十三次光纤通信暨第十四届集成光学学术会议》|2007年|278-284|共7页
会议地点南京
作者
刘旭; 曲舒霆; 洪玮; 于兵; 柏宁丰; 肖金标; 孙小菡;
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作者单位

中国电子学会;

中国通信学会;

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会议组织
正文语种
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中图分类
关键词
光子集成; 平面光波光路; 轴向渐变折射率; 楔形光纤; 耦合;

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