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单运放辐照后的退火研究

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F002C和LM741两种单运放经过不同剂量X射线辐照后，F002C一部分采用电流退火方式，一部分采用高温退火方式，LM741采用高温退火方式，经过退火后器件基本恢复辐照前的状态，再经过Y射线辐照，证实了退火对器件的辐照特性基本无影响。

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来源
《四川省电子学会2007年学术年会》|2007年|416-419|共4页
会议地点四川绵阳
作者
牟维兵;
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作者单位

中国电子学会;

四川省电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类半导体集成电路（固体电路）;可靠性及例行试验;
关键词
高温退火方式; 辐照; 运算放大电路;

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