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支持向量机在磁性薄膜材料电磁参数测量中的应用

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提出了一种测量磁性薄膜材料微波参数的新方法。测试样品结构采用微带传输线形式,等效介电常数和等效磁导率由测试网终S参数计算得出,利用支持向量机从等效介电常数和等效磁导率中提取出实际被测薄膜材料的介电常数和磁导率,网络S参数由全波分析软件(IE3D)得到。计算结果表明,介电常数和磁导率测试误差均低于5﹪。

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来源
《2007'信息与通信工程、电子科学与技术、计算机科学与技术、机械工程全国博士生学术论坛》|2007年|364-367|共4页
会议地点西安
作者
吴韵秋; 唐宗熙; 张彪;
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作者单位

国务院学位办;

教育部;

西安电子科技大学学报;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类物质的电磁性质;
关键词
支持向量机; 磁性薄膜; 微波参数; 测量;

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