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基于权值成像数据差异分析原理的AOI

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随着贴片密度增高以及元器件精细化，SMA检查难度越来越高，传统的ICT测试，由于测试夹具探针最小间距仅为1.27mm，导致ICT动能也力不从心，这时人力检测，也更加不可靠，故在上世纪90年代中期出现了自动光学测试仪——AOI，它是通过光源对SMA进行照射，用光学镜头将SMA反射光采集进计算机，经过计算机图象处理系统处理从而判断SMA上元件品种、位置及焊接质量。本文介绍了VCTA-A380型AOI3及VCTA-A380型AOT的性能。

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来源
《2007中国高端SMT学术会议》|2007年|440-446|共7页
会议地点湖南张家界
作者
张文典;
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作者单位

中国电子学会;

四川省电子学会;

广东省电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类焊接缺陷及质量检查;
关键词
AOI设备; 元器件焊接; 焊接缺陷; 权值成像; 数据差异分析; 软件系统; 图象处理系统;

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