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一种基于混沌搜索的IDDT测试产生算法

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随着集成电路测试技术的不断发展,瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注.瞬态电流测试产生需要一次产生多个向量(两个或两个以上),测试产生算法比较复杂,耗时较多,因此研究高效的测试产生算法具有重要的意义.本文针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法.该算法将测试向量空间映射到混沌空间并采用混沌搜索来寻找一对符合要求的测试向量对.模拟实验结果表明将混沌搜索用于瞬态电流测试产生是可行的.

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来源
《第四届中国测试学术会议》|2006年|84-90|共7页
会议地点北戴河
作者
汪琼; 邝继顺; 邓杭剑;
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作者单位

中国计算机学会;

东北大学;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
瞬态电流测试; 混沌搜索; 波形模拟器; 集成电路;

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专利

1. 一种基于混沌搜索的IDDT测试产生算法 [J] . 汪琼 ,邝继顺 ,邓杭剑 . 计算机应用研究 . 2007,第012期
2. 一种基于IDDT测试的时延故障测试产生算法 [J] . 蔡烁 ,邝继顺 ,崔昌明 . 微处理机 . 2007,第003期
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