首页> 中文会议>第十六届全国抗恶劣环境计算机学术年会 >改进汉明码检错纠错技术的设计与实现

改进汉明码检错纠错技术的设计与实现

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

单粒子翻转效应(SEU)是目前造成微处理器失效的主要原因.在高可靠微处理器的的抗SEU设计中,检错纠错码技术通常被用于保护各种存储器和寄存器.传统汉明EDAC技术对于同一码字中的单位错误具有较高的纠检错能力,但是对多位出错的情况将导致误纠和误检.本文提出了一种改进汉明码检错纠错方法,大大提高了对于多位错误的检错纠错能力.本文从面积、延时开销和性能的角度将改进的汉明码和传统的汉明码进行了分析和比较,并且在FPGA上分别实现了两种算法.实际证明,改进明码具有较高的性价比.

著录项

来源
《第十六届全国抗恶劣环境计算机学术年会》|2006年|193-199192|共8页
会议地点福建武夷山
作者
陈微; 戴葵; 王志英;
展开▼
作者单位

中国计算机学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类运算器和控制器（CPU）;
关键词
单粒子翻转效应; 微处理器; 检错纠错码; 改进汉明码;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 三值汉明码检错纠错原理和方法 [J] . 沈云付 ,潘磊 . 计算机学报 . 2015,第008期
2. 汉明码纠错检错能力分析与应用 [J] . 辛英 . 盐城工学院学报（自然科学版） . 2008,第001期
3. 星载机检错纠错模拟系统设计与实现 [J] . 张志洲 ,李东阳 . 实验室研究与探索 . 2018,第007期
4. 计算机RAM检错纠错电路的设计与实现 [J] . 刘淑芬 ,崔星 . 控制工程（北京） . 2002,第001期
5. 检错纠错技术在导弹伺服机构中的实现 [J] . 丁明亮 . 国外电子测量技术 . 2013,第12期
6. 检错纠错技术在数字水印中的应用 [C] . 郝彦军 ,王丽娜 ,中国科学院 . 第一届中国可信计算与信息安全学术会议 . 2004
7. 基于FPGA的RS码检错纠错技术研究 [A] . 张美杰 . 2013

改进汉明码检错纠错技术的设计与实现

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅