首页> 中文会议>第五届全国闪速熔炼技术研讨会 >提高X荧光分析准确度促进闪速炉生产的稳定

提高X荧光分析准确度促进闪速炉生产的稳定

摘要

经采取修改闪速炉渣标样定值、使用靶线做内标和基体校正、改变制样条件、修改参考样品强度等措施后,X 荧光分析准确度大大提高,同化学分析方法对比,数据相互吻合,精度较高,满足了生产控制的要求,促进了闪速炉生产的稳定。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号