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新图形发生器、新测试方法的VLSI测试系统

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本文详细阐明“基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置”的四个要点,尤其是数字电路测试码的自动生成。

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来源
《北京市纪念中国博士后制度实施二十周年——首都现代制造技术发展论坛》|2005年|200-204|共5页
会议地点北京
作者
刘天增; 张东;
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作者单位

北京工业大学;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;微处理机;
关键词
图形发生器; 微处理器; 集成电路; 电路测试; 测试装置; 测试码;

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