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有限长低密度奇偶校验码的去环分析

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低密度校验码(LDPC)是一种具有很强纠错抗干扰能力的信道编码,性能非常接近香农限且实现复杂度低.但是,环的存在是LDPC码性能恶化的重要因素,在码长为有限长时,环的影响尤为突出.本文探讨了基于校验阵的有限长LDPC码去环和优化问题,仿真结果表明,去除长度为4和6的环能够有效地提高码的性能.

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来源
《中国电子学会信息论分会第十三届学术年会》|2005年|31-35|共5页
会议地点长沙
作者
吴广恩; 陈一; 王婉南;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类信道编码理论;
关键词
低密度校验码; 去环分析; Tanner图;

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