BC3192 VXI校准方法及测量不确定度分析与评定

摘要

BC3192 VXI数模混合集成电路测试系统基本设计目标是对数字集成电路、模拟集成电路进行功能测试和参数测试。本文根据常用测量不确定度评定方法,规定了BC3192 VXI数模混合集成电路测试系统的校准条件、校准项目、校准方法,校准结果的处理及校准周期。并对其测量不确定度进行分析和评定。本方法适用于BC3192 VXI数模混合集成电路测试系统的校准。

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