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前向大角度法测量亚微米级颗粒

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本文采用Mie散射理论,分析了亚微米级颗粒散射光角度分布特征,研究了粒径、折射率等参数对散射光分布特点的影响.研究发现,将散射光强度的角度分布进行归一化后,前向30°部分范围内的分布特性近似为线性,且呈现斜率与颗粒粒径相关,而与折射率无关的特点.在此基础上,本文中提出一种新的测量方法--前向大角度法,即通过测量散射光在前向30°范围内的光强线性变化的斜率来直接得到亚微米级颗粒的平均粒径.文中讨论了该方法的适用范围、近似表达式、误差分析等.

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来源
《第六届全国颗粒测试学术会议》|2005年|67-75|共9页
会议地点江西井冈山
作者
韩鹏; 杨冠玲; 何振江;
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作者单位

中国颗粒学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类反射与折射;特种结构材料;
关键词
前向大角度法; 颗粒测量; 亚微米级颗粒; Mie散射理论; 散射光角度分布;

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