首页> 中文会议>第一届海峡两岸粉体制备科学与技术研讨会 >论现代镭射粒度仪采用全米氏(Mie)理论的必要性

论现代镭射粒度仪采用全米氏(Mie)理论的必要性

摘要

镭射粒度仪已成为目前最流行的粒度测量仪器.本文对镭射粒度仪的光学原理进行了阐述,论述了"全米氏理论"在该仪器上的应用原理,并对该仪器的结构原理和使用方法进行了介绍.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号