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电子元件的高温动态测定实验研究

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本文提出一种基于低功耗测试电路和PC机的高温动态测定实验方案,可用来测定电子元件的温度性能,最后通过实例验证了方案的可行性.

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来源
《第六届国际可靠性、维修性、安全性会议》|2004年|232-235|共4页
会议地点西安
作者
李波; 李世中; 张亚;
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作者单位

中国兵工学会;

中国航空学会;

中国机械工程学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;可靠性理论;
关键词
高温试验; 动态测定; 温度性能; 电子元件;

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