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X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的Y2O3

摘要

本文应用飞利浦PW-1404型X射线荧光光谱仪研究了锆钇粉体中Y2O3的测定方法.采用粉末压片制样,合理选择分析和制样条件,运用DJ数学模式进行干扰因素和基体效应的校正,选定仪器的测量条件,取得ZrO2和Y2O3的分析结果,应用本方法对某公司生产的锆钇粉体产品进行了测定,结果准确,方法简便,可满足生产分析要求.

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