Nb中Ta光谱测定新途径

摘要

讨论了Nb中Ta的分析现状以及面临的困难,以寻找更理想的分析线为出发点,将光谱谱线表200nm~400nm波长范围内几万条谱线与谱板进行对照,在330nm长波方向发现了3条Ta分析线,其中2条由于基体线干扰不能采用,实验显示了波长位于331.12nm的分析线长短波两侧无干扰线存在,这条Ta分析线虽能级为4p级,但它位于长波方向.本研究正是利用了长波谱线灵敏度高的这一特点来实现最终目标的.试验确定了波长为331.12nm的分析线,与过去相比,灵敏度提高了两个级差相当于一个数量级.结果表明:利用原方法与其它杂质同时测定,提高了分析速度,缩短了工作时间,简化了方法的复杂性,使操作简便易行。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号