ALICE/PHOS前端电子学板的性能测试及分析

摘要

90块最新版本的前端电子学板FEE需要在基于RCU(读出控制单元)的测试平台上进行物理和电子两方面的性能测试.本文详细介绍了FEE板的性能测试方法,通过对大量FEE板的信号增益、APD偏压控制精度和线性度、峰值时间等参数的有效测量,得到高低增益比为16.65-16.95,偏压控制模块对高压的控制精度为0.2V,峰值时间为2.204us的统计结果,满足ALICE/PHOS设计要求,为ALICE实验组数据分析提供了必要依据.

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