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测量纳米级变形的晶体光栅云纹法

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该文提出利用晶体的规则排列作计量光栅，用高空间分辨显微分析技术（HREM）记录晶体的结构像，HREM照片与普通光栅叠加，并利用傅立叶滤波技术倍增条纹，得到了高质量的，具有亚原子量级分辨率的云纹条纹图，用这一方法分析了位错、晶格变形、微缺陷附近的残余应力等微观力学现象。

著录项

来源
《第九届全国实验力学学术会议》|2000年|213-216|共4页
会议地点广州
作者
邢永明; 戴福隆; 谢惠民;
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作者单位

中国力学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类实验应力分析;
关键词
晶体光栅; 云纹法; 纳米;

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