首页> 中文会议>第一届全国纳米技术与应用学术会议 >桥式RF-MEMS开关材料对开关特性影响研究

桥式RF-MEMS开关材料对开关特性影响研究

摘要

为了获得高性能RF-MEMS开关,该文对桥式RF-MEMS开关进行深入的静电与力学分析,得到了相关模型与公式,在此基础上讨论了器件几何结构参数、材料的力学和电学特性对开关参数的影响,指出通过改变间距、梁膜厚度,选用高介电常数材料可进一步提高开关性能。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号