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电子元件高加速寿命试验及高加速应力筛选

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本文以片式瓷介电容器为例，介绍了电子元件高加速试验应力的确定方法。简述了电子元件高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）可靠性试验技术。

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来源
《第八届全国可靠性物理学术讨论会》|1999年|209-213|共5页
会议地点嘉峪关
作者
王锡清;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;
关键词
电子元件; 寿命试验; 高加速应力;

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