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高纯稀土氟化物主量和痕量杂质元素的XRF光谱分析

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提出了用玻璃熔融片法制样,以PW1404型XRF光谱测定常见的稀土氟化物(NdF<,3>、DyF<,3>、PrF<,3>等)主量元素纯度和杂质元素.标准样品采用高纯氧化物标准加盐酸溶解,氢氟酸沉淀、蒸干、熔融制成玻璃片,达到和未知样品相对应用高倍稀释法测量计算、工作曲线校正两种方法准确分析主量稀土元素纯度和杂质稀土含量.测量范围为0.005℅～99.95℅,能够满足日常生产工艺控制、科研和出口委托检测的要求.

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来源
《中国兵工学会第七届全国高速分析学术年会》|1999年|75-79|共5页
会议地点深圳
作者
郝丽萍;
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作者单位

中国兵工学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类化学试验法;稀有金属及其合金;
关键词
稀土氟化物; 玻璃熔融片; 高倍稀释法; 光谱分析; 痕量测定;

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