首页> 中文会议>第九届全国等离子体科学技术会议 >利用真空X射线二极管测量Z-pinch热辐射谱的方法

利用真空X射线二极管测量Z-pinch热辐射谱的方法

摘要

该文介绍了利用真空X射线二极管(XRD)分区测量喷气式Z-pinch热辐射谱的方法,并对测量数据进行了分析,给出了测量和解谱的结果。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号