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DAFS研究NiFe／Cu多层膜结构

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该文首次利用异常衍射精细结构谱（DAFS）分析技术对多层膜中的NiFe和Cu的精细结构进行了分析。从DAFS谱中，研究人员提取出Ni和Cu的精细结构谱，从而可以单独研究多层膜中NiFe和Cu的精细结构。与荧光EXAFS谱的比较表明，两种方法得到的谱线完全一致。该技术为研究超薄多层膜的精细结构提供一种强有力的工具。

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来源
《第七届全国X射线衍射学术会议》|1998年|81-82|共2页
会议地点武汉
作者
罗光明; 姜宏伟; 徐明; 吴忠华; 蒋海英;
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作者单位

中国物理学会;

中国地质学会;

中国金属学会;

中国晶体学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类薄膜测量与分析;
关键词
NiFe; Cu; 多层膜; 结构; X射线异常精细结构谱;

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