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基于VXI总线系统的误码测试模块

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该文介绍一个基于VXI总线系统的误码测试模块，它的设计目标是对C&C08数字程控交换系统的光接口板进行全面的误码测试。

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来源
《全国第三届VXI技术专题报告会》|1998年|22-25|共4页
会议地点北京
作者
廖维平; 安琪; 廖娟娟;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电气测量技术及仪器;
关键词
VXI总线; 误码率; 寄存器基接口;

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专利

1. 基于VXI总线系统的误码测试模块 [J] . 廖维平 ,安琪 ,廖娟娟 . 国外电子测量技术 . 1998,第6期
2. 基于VXI总线的某计算机模块测试系统实现 [J] . 孙爱中 . 现代电子技术 . 2012,第018期
3. 基于VXI总线的高速数据测试模块硬件设计 [J] . 周启忠 ,顾亚平 ,陈光(礻禹) . 中国测试 . 2006,第003期
4. 基于VXI总线高速数字测试模块的设计 [J] . 俞颖 ,陈光(礻禹) ,顾亚平 . 微计算机信息 . 2006,第001期
5. 基于VXI总线高速数字测试模块的设计 [J] . 俞颖 ,陈光礻禹 ,顾亚平 . 微计算机信息 . 2006,第01S期
6. 基于VXI总线系统的数字电路功能测试 [C] . 王格芳 ,陈国顺 ,冯锡智 . 全国第四届VXI技术专题报告会 . 1999
7. 高速数字测试模块VXI消息基接口及模块驱动设计 [A] . 周启忠 . 2006

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