首页> 中文会议>中国光学学会全息与光信息处理专业委员会'98学术年会 >光学层析方法在温度场测量中的应用研究

光学层析方法在温度场测量中的应用研究

摘要

详细论述了多方向干涉投影的光学层析技术,并将其实际应用于热工构件模型加热时所产生温度场的测试中,重建了非完全数据非对称场的三维温度分布,并将特征点的温度值与热电偶测量值相比较。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号