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Mn-Na2WO4/SiO2催化剂表面WO4中心上甲烷活化的DFT研究

摘要

甲烷的C-H键活化断裂主要发生在Mn-Na2WO4/SiO2催化剂表面上的[WO4]活性中心.使用3种饱和簇模型[WO4] (SiO3H3)1-3模拟[WO4]活性中心,反应路径计算结果表明,单桥模型[WO4] SiO3H3上容易发生甲烷活化,双桥模型[WO4](SiO3H3)2、三桥模型[WO4] (SiO3H3)3上甲烷活化困难;前线分子轨道分析表明,单桥模型[WO4] SiO3H3的O1原子性质类似氧自由基,非常活泼,易使甲烷的C-H键活化断裂,而双桥模型[WO4](SiO3H3)2、三桥模型[WO4](SiO3H3)3上没有类似氧自由基的活性氧,甲烷发生C-H键活化断裂相对困难的多.

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